#반도체검사 #웨이퍼검사 #머신비전 #딥러닝 #DeepLearning #ComputerVision #반도체장비 #WaferInspection #DefectInspection #AOI #CNN #Autoencoder #MobileNetV2 #ResNet #OpenCV #스마트팩토리 #산업용AI #비전검사 #품질검사 #SHDNN1 반도체 웨이퍼 미세 결함을 잡는 하이브리드 딥러닝 검사 기술 반도체 웨이퍼 미세 결함을 잡는 하이브리드 딥러닝 검사 기술반도체 웨이퍼 검사에서 가장 어려운 문제 중 하나는 아주 작은 결함을 거대한 고해상도 이미지 속에서 빠르게 찾아내는 일입니다. 이번 글에서는 Journal of Intelligent Manufacturing에 발표된 논문 Improving automated visual fault inspection for semiconductor manufacturing using a hybrid multistage system of deep neural networks를 바탕으로, 전통 영상처리와 딥러닝을 결합한 SH-DNN 방식의 핵심을 살펴봅니다.왜 웨이퍼 검사는 어려운가?웨이퍼 전체 이미지는 매우 크지만 실제 결함은 수 μm, 몇 픽셀 수준에 불과할 수 .. 2026. 9. 11. 이전 1 다음